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发布时间:2021-09-20 04:25:00 作者:瑞颐
TRU初级绕组对中性点阻值及电感值发现
通过检查测量损坏的TRU初级绕组对中性点阻值及电感值发现(图1中A、B、C插钉对E电阻及电感),AE阻值为0.001欧姆,电感8μH;BE阻值为0.025欧姆,电感14.5MH;CE阻值为0.009欧姆,电感2MH。AE、CE阻值及电感值与BE相差巨大,判断为TRU的初级绕组AE的绕阻绝缘层烧坏导致绕组匝间短路,所以跳开关跳出,说明AE长时间工作在高负荷状态中(CE其实也一样,只不过AE先损坏而已),而BE应该负载不大,跟之前发现的三相电源B相电压不稳的故障缺陷一致。
电子行业飞速发展,对测试仪器和测试工程师的要求也不断提高
电子行业飞速发展,对测试仪器和测试工程师的要求也不断提高。当前IC设计中超过20%的人员为测试工程师,不同的测试工程师有不同的测试习惯,不同测试场景有不同的测试需求,各类被测器件(DUT)亦有不同的测试特性。在满足测试环境多样性的同时提高测试效率,成为测试仪器的必然发展趋势。NGI结合多年电子电路和仪器电源开发设计经验,为这些高压测试场景开发N3200系列高压可编程直流电源。N3200系列有高达10kV电压输出,其电压/电流分辨率达0.1V/0.1μA。2U?19’的机箱,既可支撑桌面应用,又有便捷的上架特性,方便系统集成,高清4.3’LCD显示屏可显示丰富的测试测量信息。
N8352具备电池内阻模拟功能
N8352具备电池内阻模拟功能,并支持内阻值可编程,可编程范围为:0-1Ω,可模拟与真实电池内阻特性一致的变化曲线。不仅适用于对各类便携式电池进行充、放电测试,还可以模拟电池的充放电特性,协助进行其他各项测试。一台仪器实现多种用途,极大地精简了测试设备,并优化了测试流程。电池安全保护性能包括过充电保护、过放电保护,和短路保护三方面,由于在过保护瞬间和短路响应瞬间时间非常短,通常都在百微秒级别,因此,对于测试的电源响应速度也是有着严格的需求。N8352系列无论在空载还是带载情况下都能确保电压变化无过冲过放,防止因电压过冲过放对被测品造成损伤从而影响产品品质。符合对电源要求苛刻的产品测试要求。
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